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PNDetector 社製品の製品概要
PNDetector社(ドイツ)は、微量分析、品質保証、材料科学向けの放射線検出器を開発、製造しているメーカーで、 シリコンドリフト検出器(SDD)と電荷結合素子(pnCDD)に重点を置いています。
PNDetectorのSDDは、優れたエネルギー分解能と処理時間の短さなど、最先端の技術を有しており、 走査電子顕微鏡(SEM)、透過型電子顕微鏡(TEM)、蛍光X線装置(XRFおよびTXRF)など、さまざまな機器で使用されています。
SDDおよびBSD製品には、シリコン検出器各種とBSE(後方散乱電子検出器)、そして pnCCD製品には、高解像度X線イメージング分光法(カラーX線カメラ)、高速直接電子イメージング(pnCCD(S)TEM) カメラがあります。
PNDetector 社製品の製品仕様
SDD and BSD 製品 / 詳細(メーカーページ)
クラシックシリコンドリフト検出器、高解像度シリコンドリフト検出器、
多元素シリコン検出器、超大型検出器シリーズ、BSE(後方散乱電子検出器)等
The Complete SDD Module
– New XRF and SEM Product Line
The Complete XRF Detector System
– High Resolution and High Reliability
SDDGL Series
– For High Resolution, High Throughput Applications
SDD Racetrack
– Unique Oval Shaped SDDs for Very Close Proximity to the Sample
Rococo Line
– Monolythically Integrated 4-Channel SDD Modules Providing Maximum Solid Angle
Solid State Backscattered Electron Detector
– Quadrant Annular Detector for High Bandwidth and Low Energy Applications
pnCDD 製品(イメージセンサー) / 詳細(メーカーページ)
カラーX線カメラ、pnCCD(S)TEM ((Scanning)Transmission Electron Microscopy) カメラ
The Color X-Ray Camera
– A High Resolution Spectroscopic X-Ray Imaging System
The pnCCD (S)TEM Camera
– Fast and Direct Electron Imaging in (S)TEM Applications
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お取り扱い実績の一例
Annular Backscattered Electron Detector Preamplifier Module
Type:AMP-BSD-40-4-1-10-OPW (BSD, 後方散乱電子検出器)
主な特徴:
- 信号強度の向上
- テレビ回線の速度よりも速い超高速イメージングが可能(最大100 MHz)
- 低ノイズイメージングの提供
- 作動距離が短い(短い距離でのイメージングが可能)
- さまざまなタイプのダイオードを利用可
- 信号立ち上がり時間 10nsec、パルス立ち上げ時間 5nsec の高速LED信号
仕様:
Total active area: 40mm2
Number of segments / rings: 4 / 1
Central hole diameter: 1.0 mm
Outer diamater: 9mm
Energy threshold (50% efficiency): 2 keV
Max. geom. col-lection efficiency: 50%
Signal cap. per cell @ full depl.: 3 pF
メーカーサイトURL
検索キーワード:
(S)TEM: (Scanning)Transmission Electron Microscopy / Backscattered Electron Detector Preamplifier Module
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海外製品のため、ご注文後のキャンセル、ご返品はお受けできません。
ただし「納品後一週間以内」の初期不良品については、正常動作の同品もしくは同等品と無償交換させていただきます。
万一在庫切れの場合は同等品交換もしくは全額返金いたします。
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