FEFF9
XAFS/XANES解析 X線吸収スペクトル第一原理計算

メーカー

The FEFF Project - University of Washington

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カテゴリー

シミュレーション・解析情報学芸術学

タグ

結晶構造解析電子構造解析材料科学解析

FEFF9の製品概要

原子レベルでの物質解析を可能にする、X線吸収スペクトルの第一原理計算ソフトウェア。

米国ワシントン大学のJohn J. Rehr教授の研究グループにより開発されている、XAFS(X線吸収微細構造)やXANES(X線吸収端近傍構造)、その他様々な原子クラスタのスペクトルに対する第一原理(ab initio) 多重散乱計算のための自動プログラムです。

Linux, Mac, Windows に対応し、最新版であるFEFF9 には GUIが付属しています。

主な用途

X線吸収分光データ解析
電子構造シミュレーション
ナノ材料の物性解析
原子間相互作用の研究
光電子放出の理論計算

主なユーザーの例

物理学研究者
材料科学者
ナノテクノロジー研究者
量子化学者
分光分析エンジニア

FEFF9の製品仕様

ライセンスについて

ライセンスの種類

FEFF9 – For academic, non-profit, or government clients
FEFF9 – For corporate clients

メーカーサイトURL

https://feff.phys.washington.edu/

FEFF9

X線吸収分光データの解析や電子構造シミュレーションに特化した高機能な研究支援ツールです。

Includes manypole self energy, RPA screened core hole, k-space calculation, EELS, NRIXS, JFEFF GUI, and improved Debye Waller treatment.

主な機能

XAFS（X-ray Absorption Fine Structure）の計算：EXAFS（Extended X-ray Absorption Fine Structure）および XANES（X-ray Absorption Near Edge Structure）のスペクトルを高精度に計算可能
任意の吸収原子・近接構造に基づいたシミュレーションが可能
電子構造と局所密度状態（LDOS）の解析：吸収原子近傍の電子状態密度（DOS）やLDOSの理論的予測
材料の化学状態や局所構造の理解に有効
多体散乱理論に基づくグリーン関数法：リアルスペース多体散乱（RSMS）法による電子の波動関数・散乱振幅の計算
結晶周期を仮定せず、非周期系や不規則構造も扱える
Self-consistent Field（SCF）計算：半径方向に分割されたポテンシャルを用いた自己無撞着計算（SCF loop）に対応
電子密度分布を反映した高精度なXASスペクトルの予測が可能
EELS（電子エネルギー損失分光）の計算：XASと同様の手法により、ELNES（近端電子損失スペクトル）を理論計算可能
並列計算（MPI）対応：高速な大規模計算を実現するMPIによる並列処理に対応し、クラスターやHPC環境での利用が可能
X射線吸収分光データとの比較・フィッティング補助：実験データとのスペクトル比較により構造解析や化学状態評価を支援

検索キーワード:
FEFF / FEFF 9 / X線吸収分光 / X線吸収分光 / 電子構造解析 / ナノ材料 / 物性シミュレーション / 原子間相互作用 / 光電子放出 / 分光分析 / 量子化学ソフトウェア / 理論計算ツール / 材料科学 / 物理学研究 / 物質の電子状態 / 理論解析 / 分子モデリング / フェフ / シミュレーションソフトウェア

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商品名	納品方法	納期	価格
FEFF9 - For academic, non-profit, or government clients	電子デリバリー	3-4日程度	お問い合わせください
FEFF9 - For corporate clients	電子デリバリー	3-4日程度	お問い合わせください