- データ管理
SHELX
単結晶 構造解析 ソフトウェア
XAFS/XANES解析 X線吸収スペクトル 第一原理 計算
メーカー
The FEFF Project - University of Washington
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原子レベルでの物質解析を可能にする、X線吸収スペクトルの第一原理計算ソフトウェア。
米国 ワシントン大学のJohn J. Rehr教授の研究グループにより開発されている、XAFS(X線吸収微細構造)やXANES(X線吸収端近傍構造)、その他様々な原子クラスタのスペクトルに対する第一原理(ab initio) 多重散乱計算のための自動プログラムです。
Linux, Mac, Windows に対応し、最新版であるFEFF9 には GUIが付属しています。
X線吸収分光データの解析や電子構造シミュレーションに特化した高機能な研究支援ツールです。
Includes manypole self energy, RPA screened core hole, k-space calculation, EELS, NRIXS, JFEFF GUI, and improved Debye Waller treatment.
検索キーワード:
FEFF / FEFF 9 / X線吸収分光 / X線吸収分光 / 電子構造解析 / ナノ材料 / 物性シミュレーション / 原子間相互作用 / 光電子放出 / 分光分析 / 量子化学ソフトウェア / 理論計算ツール / 材料科学 / 物理学研究 / 物質の電子状態 / 理論解析 / 分子モデリング / フェフ / シミュレーションソフトウェア
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商品名 | 納品方法 | 納期 | 価格 |
電子デリバリー | 3-4日程度 | お問い合わせください | |
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