- サンプル解析
Digital Mobile Microscope Magnifier DM540
500倍 拡大 デジタルカメラ型 顕微鏡
非弾性散乱 バックグラウンド 補正ツール
表面分析手法 「X線光電分光法 (XPS, X-ray photoelectron spectroscopy)」におけるエネルギー損失構造を計算するソフトウェア。
XPSピーク形状の解析から、3次元表面ナノ構造の定量的なXPSまたはAES解析を行います。 バックグラウンド除去法であるTougaard法により、複雑なスタックと深く埋もれた層の深さ分布を高い精度で取得可能です。
グラフィカルなユーザーインターフェイスとユーザーフレンドリーなデータ処理など、 分かりやすさと使い勝手のよさを備えています。ユーザーズマニュアルとチュートリアルも充実しています。
お問い合わせの際は、ライセンス登録者 (代表者) さまの情報をお知らせください (英語表記)。
バックグラウンドの形状から膜厚を推定する方法として使用されるTougaard (ツガード法) 採用した
非弾性散乱バックグラウンド補正ツール
※上記以外の電子スペクトル解析による表面ナノ構造解析のためのQuesesソフトウェアの
ご相談に際しましては、製品名、製品URLをお知らせください
XPSまたはAESによる角度分解分析を定量的に行うソフトウェア
材料やナノ薄膜の有効非弾性電子散乱断面積を定量的に決定するためのソフトウェア
IMFPの表面効果計算のほか、REELSからナノ薄膜の光学特性や誘電特性を決定するためのソフトウェア
検索キーワード:
表面ナノ構造解析 / 非弾性散乱補正 / バックグラウンド除去 / XPS解析支援 / AESデータ処理 / エネルギー損失計算 / 膜厚推定 / 定量スペクトル解析 / モデルスペクトル生成 / Savitzky‑Golay平滑化 / 量子ビーム解析 / 深さ分布評価 / 角度分解スペクトル / 3次元表面イメージング / 定量的化学組成 / 非破壊評価 / 高精度透過率補正 / グラフィカルUI / チュートリアル付属 / 研究開発向け分析ツール
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商品名 | 納品方法 | 納期 | 価格 |
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ハードウェア、パッケージソフトウェア等は弊社より宅配便でお届けいたします。
ご注文いただいた商品がダウンロードソフトウェアやライセンス、レポート等の場合は「電子デリバリー」にてお届けいたします。
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※ 返品・交換について
海外製品のため、ご注文後のキャンセル、ご返品はお受けできません。
ただし「納品後一週間以内」の初期不良品については、正常動作の同品もしくは同等品と無償交換させていただきます。
万一在庫切れの場合は同等品交換もしくは全額返金いたします。
ユニポスはQUASES-Tougaardの調達販売を行い、海外製品調達に関するお困りごとを解決するサービスです。 詳しくはこちら。
納品・請求書による後払いです。
ご注文手続きはお見積もりメールへの返信のみでけっこうです。
ご注文の返信メールをいただいた後、弊社指定の銀行口座へのお振込みを確認した時点で注文の確定とさせていただきます。
※法人掛売りでのお支払いについては一定の条件がございます。
お支払い方法の詳細はお見積もりメールに記載しておりますので、ご確認ください。
Digital Mobile Microscope Magnifier DM540
500倍 拡大 デジタルカメラ型 顕微鏡
SMS (Surface-water Modeling System)
沿岸や河川向け 地表水 モデリング ソフトウェア
Klaric 社製 電圧・電流計測器
電気自動車 向け 高電圧/低電圧 計測モジュール
Ultra-fast Interrupter (UFI)
LV124/LV148 自動車テスト 高速遮断 電子遮断器
SmartSolo
微小地震 検知 3軸方向 スマート地震センサ (IGU)
PicoScope
PC接続タイプ オシロスコープ